Difractometru cu raze X (XRD)

PANalytical X’Pert PRO MPD

PANalytical
Difractometru cu raze X PANalytical X’Pert PRO MPD (XRD)
Extras din raportul de service:
Aparat: PANalytical X’Pert PRO MPD
Dodpfxswycats Agroku
Redactat la data: 07.07.2021
Lucrări efectuate:
- Reinstalarea și punerea în funcțiune a sistemului
- Conectarea liniilor de alimentare externe
- Fază de încălzire
- Reglaj complet al goniometrului și al altor componente
- Efectuarea mentenanței, inclusiv înlocuirea pieselor defecte
Piese de schimb utilizate:
L 3.6V NC/U3 R15.0X52.0 BATERIE NI-CD
Ventilator pentru unitatea X-Celerator
Filtru apă
Motor PW3050
(„Aparatul nu a fost testat la noi în firmă”)
X’Pert PRO MPD este un difractometru cu raze X (XRD) foarte versatil și performant pentru caracterizarea structurală a materialelor cristaline.
– perfect atât pentru cercetare fundamentală, cât și pentru aplicații de rutină în industrie și universități. Datorită construcției modulare, detecției rapide, controlului temperaturii și atmosferei, este ideal atât pentru analize de rutină, cât și pentru experimente complexe in-situ.
Caracteristici principale:
Geometrii de măsurare diverse:
- Reflexie în modul Bragg-Brentano (θ–2θ)
- Geometrie de transmisie pentru pulberi în capilare
- Opțional și SAXS (Small-Angle X-ray Scattering) pentru nanostructuri
Sursă de radiație și detectoare:
- Anodă de cupru (Cu-Kα, λ ≈ 1,54 Å) ca standard
- Detector X’Celerator (1D, ultra-rapid) pentru colectare paralelă de date
Sistem modular cu tehnologie PreFIX:
- Schimbare rapidă a opticii și a platformelor de probă fără recalibrare
Măsurători in-situ la temperaturi ridicate:
- Măsurători posibile până la aprox. 1200°C
- Atmosferă controlată: aer, azot, oxigen (atmosferă reducătoare limitată)
Aplicații tipice:
- Analiza fazelor și cuantificare Rietveld
- Determinarea dimensiunii cristalitelor, microdeformărilor, tensiunilor interne
- Studiul in-situ al tranzițiilor de fază, oxidării, cristalizării etc.
- Măsurători SAXS pentru analiza nanoparticulelor, structurilor poroase
- Gama largă de probe: pulberi, straturi subțiri, ceramică, produse farmaceutice, catalizatori etc.
Date tehnice (tipice)
Proprietate și specificație
Plajă unghiulară (2θ): cca. 0,5° – 150°
Increment până la 0,002° sau mai fin
Goniometru vertical, 0–0, rază cca. 240 mm
Plajă de temperatură: de la temperatura camerei până la cca. 1200 °C
Atmosferă: Aer, N₂, O₂ (atmosferă reducătoare limitată)
Detectoare: X’Celerator (1D), detector proporțional
Răspândire și utilizare:
X’Pert PRO MPD este folosit la nivel mondial, ex. la:
Universități (ETH Zurich, TU Dresden, Universitatea din Viena)
Instituturi de cercetare (ex. institute Max-Planck, ICN2, IS2M)
Industrie (ex. dezvoltare materiale, pharma, chimie)
Stare: folosit / second-hand
Conținut livrare: (vezi imagine)
(Schimbări și erori în datele tehnice posibile; ne rezervăm dreptul la modificări!)
Pentru întrebări suplimentare vă stăm cu plăcere la dispoziție telefonic.

Anunțul publicitar a fost tradus automat și ar putea apărea unele erori de traducere.